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頭掃描原子力顯微鏡

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頭掃描原子力顯微鏡

FM-Nanoview LS-AFM

 

 國內(nèi)首家實現(xiàn)樣品保持不動,探針移動掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡;

 樣品尺寸、重量幾乎不受限制,特別適合超大樣品檢測;

 樣品臺可拓展性強(qiáng),非常便于進(jìn)行多儀器聯(lián)用實現(xiàn)原位檢測;

 電動控制樣品移動臺和升降臺,可任意編程多點位置實現(xiàn)快速自動化檢測;

 龍門架式掃描頭設(shè)計,大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物臺;
 馬達(dá)自動控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式,保護(hù)探針及樣品
 高倍輔助光學(xué)顯微定位,實時觀測與定位探針以及樣品掃描區(qū)域

 集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測量精度優(yōu)于98%



技術(shù)參數(shù)

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應(yīng)用案例

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